SAXS/WAXS/BioSAXS 系統(tǒng)：SAXSpace

SAXSpace 是適用于 SAXS 和 WAXS 研究的實(shí)驗(yàn)室級(jí)緊湊型系統(tǒng)，其出色的模塊準(zhǔn)直系統(tǒng)可確保在極短的測(cè)量時(shí)間內(nèi)發(fā)射出高強(qiáng)度的 X-射線光束。

SAXS/WAXS/BioSAXS 系統(tǒng)產(chǎn)品詳情：

加速實(shí)驗(yàn)室的日常工作：為高通量而優(yōu)化

生物樣品（如蛋白質(zhì)和酶）或納米顆粒分散體的研究和特性分析通常都需要一次性對(duì)許多樣品進(jìn)行多次分析。SAXSpace 經(jīng)過優(yōu)化，可在一次自動(dòng)化工作流程中處理多達(dá) 192 個(gè)液體樣品。結(jié)合使用 ASX 自動(dòng)進(jìn)樣器，可在無需操作員輸入的情況下，確?？焖倬_的進(jìn)樣以及高效的清洗操作。這樣就可以在一夜之間獲得測(cè)量結(jié)果，同時(shí)在開始第二天工作之時(shí)提供完整的數(shù)據(jù)集以供分析。ASX 自動(dòng)進(jìn)樣器可提供敏感型生物樣品通常所需的冷卻選件。

利用 TrueFocus 和 Stagemaster 可節(jié)省時(shí)間

利用 TrueFocus，只需按下按鈕即可實(shí)現(xiàn)所有 X-射線組件與樣品臺(tái)之間的全自動(dòng)、智能自準(zhǔn)直調(diào)整，可節(jié)省調(diào)準(zhǔn)時(shí)間。

同時(shí)，Stagemaster 可自動(dòng)識(shí)別正在工作的樣品臺(tái)，并對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行相應(yīng)配置。這可確保無需任何手動(dòng)操作即可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量結(jié)果，并使您能夠全面靈活地進(jìn)行測(cè)量。

同時(shí)得到 SAXS 和 WAXS：TrueSWAXS

TrueSWAXS 能夠以均勻的分辨率，進(jìn)行最高 60° 2? 角的同時(shí)和連續(xù) SWAXS 研究。利用在低角度處收集的散射信號(hào) (SAXS)，可以獲得尺寸高達(dá)幾百納米的大組裝體（如顆粒結(jié)構(gòu)和顆粒/大分子組裝體）的相關(guān)信息，而在大角度處收集的散射信號(hào) (WAXS) 可提供原子級(jí)晶體結(jié)構(gòu)的相關(guān)信息。TrueSWAXS 功能可從同一個(gè)樣品中一次性獲得所有相關(guān)信息，并可幫助您提升樣品處理量，以進(jìn)行多次分析。采用 TrueSWAXS，不需要重新調(diào)準(zhǔn)系統(tǒng)?？梢源_保一致的分辨率和可靠的結(jié)果。

多功能樣品臺(tái)提供各種測(cè)量選項(xiàng)

多功能 SAXSpace 樣品室可提供無數(shù)分析選項(xiàng)和充分的實(shí)驗(yàn)靈活性。同時(shí)，還提供各種樣品臺(tái)和樣品槽，用于環(huán)境和非環(huán)境條件研究，如溫控（-150 °C 至 600 °C）研究、濕度研究、定義的機(jī)械載荷研究、多固相/糊狀/液體樣品的自動(dòng)測(cè)量或薄膜和納米結(jié)構(gòu)表面分析(GISAXS)。樣品臺(tái)為即插即用型，且可通過 Stagemaster 自動(dòng)識(shí)別，從而實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)配置的自動(dòng)化。樣品室還允許您自由地使用自己的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，且安東帕可為您的實(shí)驗(yàn)設(shè)備提供定制解決方案。

功能強(qiáng)大的控制和數(shù)據(jù)分析軟件

散射數(shù)據(jù)的控制和分析需要功能強(qiáng)大的軟件解決方案。SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 支持自動(dòng)執(zhí)行常規(guī)程序步驟，如測(cè)量設(shè)置和調(diào)準(zhǔn)，以及綜合的數(shù)據(jù)分析?？衫眠B續(xù)測(cè)量、自動(dòng)進(jìn)樣、溫度掃描和時(shí)間相關(guān)研究，并分析獲得的 1D 和 2D 數(shù)據(jù)集。測(cè)定回轉(zhuǎn)半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數(shù)、比表面積、Kratky 曲線等參數(shù)是 SAXSanalysis™ 的標(biāo)準(zhǔn)功能。對(duì)于高級(jí)結(jié)構(gòu)解析 (PCG)，如粒徑、粒徑分布、形狀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可使用 IFT 和去卷積方法。